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Medición de nanómetros de perfilador óptico 3D con tecnología confocal, interferometría y variación de enfoque.
Una solución de QA/QC e I+D diseñada para la velocidad. Perfilado 3D al nanómetro con 3 tecnologías ópticas y la capacidad de medir superficies lisas y brillantes.
El S Neox mide utilizando técnicas de variación de enfoque, interferometría y confocal. Para medir la rugosidad, el acabado superficial, la planitud y la ondulación de materiales como películas finas y obleas.
Variación de enfoque Ai: guarda cada capa a medida que la lente se mueve hacia arriba, lo que le permite ver la forma y la curvatura.
Confocal: solo permite que la luz enfocada le permita ver la estructura de la superficie.
Interferometría: utiliza un láser para permitir una medición muy precisa de hasta nanómetros, excelente para superficies brillantes como obleas.
Reflectometría Espectroscópica: Realice mediciones de espesor en capas transparentes de forma rápida, precisa y no destructiva.
This equipment is located in MY
Fabricante | Sensofar Metrology |
Modelo | PLU-NEOX |
Año | 2011 |
País | Malasia |
Condición | Bueno |
Categoría principal | Equipos industriales varios |
Subcategoría | Equipo de prueba óptica |
ID | P21010020 |
Tipo de cliente | Usuario final |
En Kitmondo desde | 2022 |
Número de anuncios | 29 |
País | Malasia |
Última actividad | Abr. 10, 2024 |
Contacto | Haga clic aquí |