Electroglas EG2001x AUTO PROBER+CAPABILITY CARTOGRAPHIE d'occasion (Lot de 2)

Description de l'offre

Sondeur automatique de plaquettes. Manipulation de tranche de cassette à cassette. Alignement automatique. La reconnaissance de formes. Manipulation des tranches de voie de ceinture. Les systèmes peuvent être configurés pour des tranches de 3 à 6 pouces de diamètre.

L'outil est généralement utilisé pour charger, aligner et sonder automatiquement plusieurs emplacements sur une tranche ou une série de tranches. Il est également possible d'utiliser l'outil manuellement. Dans ce cas, des tranches ou des morceaux de tranches sont placés individuellement sur le mandrin et guidés au moyen d'un viseur de microscope vers les aiguilles de la sonde. Les tests électriques sont ensuite lancés manuellement par l'utilisateur.

Les testeurs de plaquettes sont couramment utilisés lorsqu'il est nécessaire d'acquérir de grandes quantités de données de test. Une situation typique de ce type est lorsqu'une analyse statistique doit être effectuée sur l'ensemble de données ou lorsque de nombreux appareils doivent être examinés pour la validation du produit. Les tranches qui sont destinées à recevoir un test automatique sur un testeur de tranche doivent avoir certaines caractéristiques conçues en elles. Celles-ci incluent généralement des caractéristiques ("clés d'alignement") que le testeur peut identifier avec un système de vision pour aligner avec précision la plaquette et l'amener dans une relation de localisation précise avec la carte sonde. Les dispositifs sur la plaquette ciblés pour le test doivent avoir des emplacements de contact (« électrodes de test ») qui correspondent aux positions de l'aiguille sur la carte sonde, et sont suffisamment grands pour s'adapter aux erreurs de ciblage nominales dans le système d'alignement du sondeur.

Le prober n'est qu'un composant du système de test, chargé de mettre le DUT (Device Under Test) en contact avec une carte sonde qui est à son tour connectée à un instrument de test approprié. Les instruments de test courants comprennent des analyseurs de paramètres de semi-conducteurs pour la caractérisation des transistors, des multimètres pour les mesures de résistance ou de courant, des compteurs de capacité et parfois des dispositifs sur mesure.

Une fois configurés et intégrés à un instrument de test, les testeurs sont capables de fonctionner sans surveillance pendant des intervalles prolongés. Il est possible d'effectuer des tests d'une durée de plusieurs heures, ou de tester des centaines voire des milliers d'appareils, accumulant de grandes quantités de données de test à l'appui d'objectifs de recherche ou de production.

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