Hitachi S-3000N

Description de l'offre

Microscope électronique à balayage Hitachi S-3000N
Microscope électronique à balayage Hitachi S-3000N Le microscope électronique à balayage Hitachi S-3000N (SEM) est un SEM à pression variable contrôlé par PC avec la capacité de basculer entre les modes de vide poussé et de pression variable. Il dispose d'une mémoire d'image haute densité de 1280x960 pixels et d'un système avancé de capture d'image et d'archivage.

La rétrodiffusion à l'état solide à quatre quadrants permet l'imagerie dans les modes composition, 3D et topographique en manipulant à partir de chaque segment du détecteur.

Spécifications du système
Plage de tension d'accélération de 0,3 à 30 kV
Résolution de 5 nm à 25 kV en mode pression variable
Taille maximale de l'échantillon de 150 mm de diamètre
Double polarisation pour le bruit du signal basse tension
Mode de rétrodiffusion

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