Hitachi S-3400N-Type II

Description de l'offre

Fabricant: Hitachi
Modèle: S-3400N-Type II
Sources:
Type d'actif: Microscope
Numéro de série: 341099-01
Année: 2011
quantité: 1

Informations supplémentaires: Microscope électronique à balayage HITACHI S3400-N Type II (SEM), 2011? Grossissement: x 5 ~ x 300000 Tension d'accélération: 0,3 ~ 30 kV Plage de pression variable: 6 ~ 270 Pa (via GUI) Décalage d'image: +/- 50 ~ m (à WD = 10 mm) Détecteur ESB: Quad haute sensibilité + 1 type ESB Taille de l'échantillon: 200 mm dia. Platines d'échantillons: X: 100 mm, Y: 50 mm, Z: 5 ~ 65 mm T: 0 ~ 60 degrés, R: 360 degrés 5 axes motorisé Hauteur de l'échantillon 80 mm à 10 mm WD Mémoire de trame: 640x480 pixels, 1,280x960 pixels, 2560x1, 920 pixels, 5120 x 3840 pixels Analyse aux rayons X: Distance de travail: 10 mm Angle de décollage des rayons X: 35 degrés

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