Specifiche tecniche

-------------------
ore effettuate
ore allacciato alla corrente
condizione così com'è
conforme alle norme CE ---------
stato
Scheda tecnica ASML Yieldstar S-200B
Data ultima disponibilità 28/11/2025

descrizione

Modello: YieldStar S-200B
Produttore: ASML
Anno di produzione: 2011
Condizioni tecniche: Così com'è, dove si trova
Tipo: YieldStar
Dimensione del wafer: 300 mm (12")
Sorgente laser: LPPS, raffreddamento ad acqua
Descrizione generale: L'YSS200B è un sistema ottico di misurazione della sovrapposizione progettato per una misurazione rapida ed estremamente accurata delle deviazioni della sovrapposizione su wafer da 300 mm. In genere viene utilizzato come sistema autonomo per il monitoraggio post-incisione nel controllo del processo di produzione.

Si avvisa che la descrizione puo´ esser stata tradotta automaticamente. Ci contatti per ulteriori informazioni. Le informazioni di questo annuncio classificato sono solo indicative. Consigliamo di verificare i dettagli con il venditore prima dell' acquisto


Tipo di cliente Rivenditore
Attivo dal 2025
Offerte online 29
Ultima attività 04 Dicembre 2025

descrizione

Modello: YieldStar S-200B
Produttore: ASML
Anno di produzione: 2011
Condizioni tecniche: Così com'è, dove si trova
Tipo: YieldStar
Dimensione del wafer: 300 mm (12")
Sorgente laser: LPPS, raffreddamento ad acqua
Descrizione generale: L'YSS200B è un sistema ottico di misurazione della sovrapposizione progettato per una misurazione rapida ed estremamente accurata delle deviazioni della sovrapposizione su wafer da 300 mm. In genere viene utilizzato come sistema autonomo per il monitoraggio post-incisione nel controllo del processo di produzione.

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