Metricon 2010/M Проектор профил Проверенный продавец

Цена по запросу

Производитель	Metricon
Модель	2010/M
Год выпуска	2018
Местонахождение	США
Категория	Полупроводники - Приборы для метрологии
ID номер	P240314068
Язык	Профилен проектор Metricon 2010/M Projektor na kontrolu profilu Metricon 2010/M Metricon 2010/M Profilprojektor Metricon 2010/M Profilprojektor Προβολέας προφίλ Metricon 2010/M Metricon 2010/M Prism Coupler Proyector de perfil Metricon 2010/M Projecteur de profil Metricon 2010/M Projektor profila Metricon 2010/M Metricon 2010/M Profil projektor Proiettor profili Metricon 2010/M Profilinis projektorius Metricon 2010/M Metricon 2010/M Profielprojector Profile projector Metricon 2010/M Projetor de perfil Metricon 2010/M Proiector de profil Metricon 2010/M Metricon 2010/M Проектор профил Profil projektor Metricon 2010/M Metricon 2010/M Profilprojektor Profil projektörü Metricon 2010/M

Детали
Об этом продавце

Детальная информация

Программное обеспечение
-------------------
часы наработки
часы включения
состояние	в хорошем состоянии
Маркировка CE	---------
статус
Последняя дата доступности	13/10/2025

описание

Технические характеристики модели 2010/M

Точность индекса: ±0,0005 (в худшем случае), ограниченная в основном неопределенностями в угле призмы и коэффициенте преломления. При использовании поворотного стола с высоким разрешением и простой калибровки на призму точность повышается до ±0,0001-0,0002. Имеются калибровочные стандарты (например, NIST, плавленый кварц).

Разрешение индекса: ±0,0003 (в худшем случае). Улучшается до ±0,00005 при использовании таблицы высокого разрешения (недорогая опция).

Точность измерения толщины: ±(0,5% + 5 нм)

Разрешение по толщине: ±0,3%

Диапазон измерения показателя преломления: До 2,65 со стандартными призмами. Доступны специализированные призмы для материалов до 3,35 (обратитесь к Metricon).

Типы пленок и диапазоны измеряемой толщины: Можно измерить практически любую пленку, которая не является металлической или сильно поглощающей на рабочей длине волны. Двухслойные пленки можно измерять, если верхняя пленка имеет более высокий коэффициент преломления. Минимальная измеряемая толщина зависит от индекса пленки/подложки.

Область измерения: Площадь контакта ~8 мм²; фактическая область измерения ~1 мм в диаметре.

Типичное время измерения:

10-25 секунд со стандартным столом

20-75 секунд с таблицей высокого разрешения

Рабочие длины волн:

Стандартная: 633 нм

Дополнительные видимые: 405, 450, 473, 532, 594 нм (для более тонких пленок)

Дополнительный ближний ИК-диапазон: 830, 980, 1064, 1310, 1550 нм (для оптоволокна/интегрированной оптики)

Примечание: Дополнительные источники повышают класс лазерной безопасности по CDRH до IIIa или IIIb

Установленные лазерные диоды: 405 нм, 521 нм, 636 нм

Код призмы: 999.5

Компьютер: ПК Dell с Windows 7

Дата производства: 10-2018

Серийный номер: 23033

Данное описание может быть переведено автоматически. Свяжитесь с нами для получения дополнительной информации. Информация в данном объявлении носит ориентировочный характер. Мы рекомендуем перед покупкой станка уточнять детали у продавца.

Тип клиента	дилер
Активный с	2019
Предложения онлайн	65
Последняя активность	5 декабря 2025 г.

описание

Детальная информация

Программное обеспечение
-------------------
часы наработки
часы включения
состояние	в хорошем состоянии
Маркировка CE	---------
статус
Последняя дата доступности	13/10/2025

Об этом продавце

Тип клиента	дилер
Активный с	2019
Предложения онлайн	65
Последняя активность	5 декабря 2025 г.

Metricon 2010/M Проектор профил Проверенный продавец

Детальная информация

описание

описание

Детальная информация

Об этом продавце

Вот выбор подобных станков

Metricon 2010/M Проектор профил