Koh Young KY-3030VAXL SPI

Descripción del anuncio

Capacidad de metrología Volumen, Altura, Posición XY, Área
Detección de defectos Pasta insuficiente, excesiva/faltante, puentes, deformidad de la forma, desplazamiento de la pasta
Tamaño del campo de visión 32x24 mm
Precisión de la mesa XY 10 µm
Tiempo típico de carga/descarga y búsqueda fiduciaria 4 segundos
Precisión de altura 2 µm
Repetibilidad Altura: ±1%* Volumen: ±1%*
Tamaño de ajuste negativo Rectángulo: 150 µm Círculo: 200 µm
Altura máxima de pasada 400 µm
deformación máxima de PCB ±5 mm
distancia mínima entre soldaduras 100 µm

Análisis estadístico Histograma, gráfico de barras X y S, Cp y Cpk, % de datos R&R del medidor, SPI Informes diarios/semanales/mensuales
Entrenamiento de posición de inspección Admite formato GERBER (274x, 274D)
Algoritmo de visión 3D/SFM (Inferometría muaré sin sombras)
Sistema operativoMicrosoft Windows
tipo de sonda Sin efecto de sombra
Cámara 2M B/N Cámara digital (1600 x 1200)
Dimensiones (An x Pr x Al) / Peso 1200x1580x1570mm / 900Kg
Máx. Tamaño de placa de circuito impreso 690x610 mm

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