EG 4090U+ Sondes

Beschrijving advertentie

ELECTROGLAS / EG 4090u+ is een krachtige, ultranauwkeurige sonde met ultrahoge resolutie die in de halfgeleiderindustrie wordt gebruikt voor het onderzoeken en testen van halfgeleiderchips en -chips. Het is in staat apparaten in een breed scala aan maten en vormen te testen met extreem hoge nauwkeurigheid en herhaalbaarheid. De EG 4090 U+ bevat een verscheidenheid aan geïntegreerde geavanceerde functies, waaronder een 3D-scanner voor gedetailleerde beeldvorming en positionering van de elektroden, evenals een geïntegreerd boogdetectiesysteem voor nauwkeurige communicatie, timing en controle. De geavanceerde kenmerken van ELECTROGLAS EG4090U+ maken het een superieure keuze voor ultranauwkeurig testen op halfgeleiderwafels. Het is uitgerust met een krachtig scansysteem dat zorgt voor beeldvorming met ultrahoge resolutie van de wafers en voor een nauwkeurige positionering van de sondes. Bovendien maakt het geautomatiseerde microscoopsysteem automatische optische centrering en uitlijning van de sondepunt mogelijk. Met deze geavanceerde functies kunnen ELECTROGLAS 4090u+ sondes nauwkeurig worden gepositioneerd met ongelooflijke nauwkeurigheid en herhaalbaarheid. Deze krachtige sonde is voorzien van een ultramoderne communicatieverbinding met de externe testcontroller. Het kan communiceren met verschillende testcontrollers voor het beheren van testsequenties of rechtstreeks met de tester voor testen parallel met andere processen. De communicatieverbinding beschikt over een bidirectionele modus voor snelle, betrouwbare testoperaties en realtime datalogging. Hierdoor kan de sonde worden geïntegreerd in uitgebreide fabrieksprocessen. EG EG4090U+ bevat ook een reeks verbeterde chipverwerkingsfuncties. Het is ontworpen om snel en nauwkeurig spanen op hoge snelheid uit te lijnen en op de sondes te laden. De geautomatiseerde en verbeterde waferhantering maakt het ook mogelijk om meerdere apparaten tegelijkertijd nauwkeurig te plaatsen en te onderzoeken, zelfs met uitdagende geometrieën. Kortom, ELECTROGLAS / EG 4090 U+ is een krachtige, ultranauwkeurige sonde met ultrahoge resolutie, ontworpen voor zowel kleine als grote halfgeleiderwafels. Het biedt superieure optische centrering en uitlijning, verbeterde verwerking van wafers en een krachtige communicatieverbinding voor geavanceerd testbeheer en logboekregistratie. Al deze eigenschappen maken ELECTROGLAS / EG EG4090U+ een ideale keuze voor ultranauwkeurig testen op complexe halfgeleiderwafels.

This equipment is located in SG