Αποτελέσματα αναζήτησης για "Metrology" 1

Ερευνητικά Όργανα EUV MBR- MASK METROLOGY

Έτος: 2017
Τοποθεσία: Σιγκαπούρη Σιγκαπούρη
Φασματικό εύρος μετρημένο < 12,5 έως > 14,5 nm Φασματική Ανάλυση ≈ 1,7 μ.μ Μέγεθος μετρημένου σημείου Τύπος. 250x100 μm2 -- Μετρημένη δυναμική σή…