Zoekresultaten voor "Metrology" 1

Instellingen bekijken
Filters
5 Onderzoeksinstrumenten EUV MBR- MASK METROLOGY

Onderzoeksinstrumenten EUV MBR- MASK METROLOGY

Jaar
2017
Locatie
Singapore Singapore
Prijs op aanvraag
5 Onderzoeksinstrumenten EUV MBR- MASK METROLOGY

Onderzoeksinstrumenten EUV MBR- MASK METROLOGY

Jaar: 2017
Locatie: Singapore Singapore
Gemeten spectraalbereik < 12,5 tot > 14,5 nm Spectrale resolutie ≈ 1,7 uur Gemeten spotgrootte Typ. 250x100 μm2 -- Gemeten signaaldynamiek > 12 b…
Prijs op aanvraag

U hebt het einde van de lijst bereikt...

Klik hier om een nieuwe zoekopdracht te geven