Beschreibung
Bei diesem Gerät handelt es sich um ein 4D Systems Modell 280 Automatic Four Point Probe Meter, das für die Messung des Schichtwiderstands von Halbleiterwafern konzipiert ist.
Das System lässt sich erfolgreich einschalten, aber wir haben weder die Software noch das Zubehör, um weitere Tests durchzuführen. Wir haben keine technischen Kenntnisse oder Erfahrungen, um die Funktionalität zu überprüfen. Aus diesem Grund wird es so verkauft, wie es ist, ohne Garantie auf volle Funktionalität oder Kalibrierung.
Merkmale:
- Kompatibel mit Wafergrößen: 100mm, 125mm, 150mm, 200mm
- Geeignet für P-Typ und N-Typ Materialien
- Enthält alle auf den Fotos abgebildeten Komponenten
- Frontplatte und Tasten scheinen intakt zu sein
- Keine Software, Zubehör oder Kabel enthalten, sofern nicht abgebildet
Käufer mit Kenntnissen über dieses Modell können es möglicherweise restaurieren oder als Ersatzteil verwenden.
Bitte beachten Sie, dass diese Beschreibung automatich übersetzt wurde. Für weitere Informationen stehen wir Ihnen gerne zur Verfügung. Die Angaben in dieser Anzeige sind unverbindlich. Wir empfehlen, die Details vor einem Kauf mit dem Verkäufer zu überprüfen.