Acoplador de prisma Metricon 2010/M

Descripción del anuncio

Precisión del índice: ±.0005 (peor caso). La precisión absoluta del índice está limitada principalmente por las incertidumbres en la determinación del ángulo y el índice de refracción del prisma de medición. Para muestras de calidad óptica razonable, si se utiliza una tabla de alta resolución y si el usuario está dispuesto a realizar un procedimiento de calibración simple con cada prisma, se puede lograr una precisión absoluta del índice de ±0,0001-0,0002. NIST, sílice fundida y otros estándares están disponibles para la calibración del índice.
Resolución del índice: ±.0003 (peor caso). Para muestras de calidad óptica razonable, la resolución del índice se puede mejorar hasta ±0,00005 mediante el uso de una mesa giratoria de alta resolución, una opción sin costo.
Precisión del espesor: ±(0,5% + 5 nm)
Resolución de espesor: ±0,3%
Longitud de onda operativa: Se encuentran disponibles longitudes de onda más cortas opcionales (405, 450, 473, 532, 594 nm) para medir películas más delgadas y longitudes de onda de infrarrojo cercano (830, 980, 1064, 1310, 1550 nm) para aplicaciones de fibra/óptica integrada. Las fuentes opcionales cambian la clase de seguridad CDRH a IIIa o IIIb.
Tiempo de medición típico: 10-25 segundos con tabla estándar, 20-75 segundos con tabla de alta resolución.
Área de medición: Mientras que la película y el prisma de medición están en contacto en un área de aproximadamente 8 mm cuadrados, el área de la película realmente medida es de sólo 1 mm de diámetro.
Rango de medición del índice de refracción: Con prismas estándar, se pueden medir películas y materiales a granel con un índice de refracción de 2,65 e inferior. Hay prismas especializados disponibles para permitir mediciones de índice de hasta 3,35 (consulte a Metricon para obtener más detalles).
Tipos de película/rangos de espesor medibles: El modelo 2010/M puede medir prácticamente cualquier tipo de película que no sea metálica o que tenga una alta absorción en la longitud de onda operativa. En muchos casos, el espesor y el índice de una o ambas películas de capas de película dual se pueden medir*, siempre que la película superior tenga un índice de refracción más alto. El espesor debe exceder un umbral mínimo que depende del índice de la película y del sustrato (o película subyacente).

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