Metricon 2010/M prismakoppeling

Beschrijving advertentie

Indexnauwkeurigheid: ±0,0005 (slechtste geval). De absolute indexnauwkeurigheid wordt voornamelijk beperkt door onzekerheden bij het bepalen van de hoek en de brekingsindex van het meetprisma. Voor monsters van redelijke optische kwaliteit kan, als een tafel met hoge resolutie wordt gebruikt en als de gebruiker bereid is om met elk prisma een eenvoudige kalibratieprocedure uit te voeren, een absolute indexnauwkeurigheid van ± 0,0001-0,0002 worden bereikt. NIST, gesmolten silica en andere standaarden zijn beschikbaar voor indexkalibratie.
Indexresolutie: ±.0003 (slechtste geval). Voor monsters met een redelijke optische kwaliteit kan de indexresolutie worden verbeterd tot ±0,00005 door gebruik te maken van een draaitafel met hoge resolutie, een gratis optie.
Diktenauwkeurigheid: ±(0,5% + 5 nm)
Dikteresolutie: ±0,3%
Bedrijfsgolflengte: Optionele kortere golflengten (405, 450, 473, 532, 594 nm) voor het meten van dunnere films en bijna-IR-golflengten (830, 980, 1064, 1310, 1550 nm) voor glasvezel-/geïntegreerde optica-toepassingen zijn beschikbaar. Optionele bronnen veranderen de CDRH-veiligheidsklasse naar IIIa of IIIb.
Typische meettijd: 10-25 seconden met standaardtafel, 20-75 seconden met tafel met hoge resolutie.
Meetgebied: Terwijl de film en het meetprisma contact maken over een gebied van ongeveer 8 mm in het vierkant, heeft het feitelijk gemeten filmoppervlak slechts een diameter van 1 mm.
Meetbereik brekingsindex: Met standaardprisma's zijn films en bulkmaterialen met brekingsindex 2,65 en lager meetbaar. Er zijn gespecialiseerde prisma's verkrijgbaar die indexmetingen tot 3,35 mogelijk maken (raadpleeg Metricon voor details).
Meetbaar filmtype/diktebereik: Model 2010/M kan vrijwel elk filmtype meten dat niet metallisch is of zeer sterk absorbeert bij de bedrijfsgolflengte. In veel gevallen zijn de dikte en index van één of beide films van dubbele filmlagen meetbaar*, op voorwaarde dat de bovenste film een ​​hogere brekingsindex heeft. De dikte moet een minimumdrempel overschrijden die afhankelijk is van de index van de film en het substraat (of de onderliggende film).

This equipment is located in US