Metricon 2010/M


Dernière disponibilité: Mars 14, 2024

Description de l'offre

Précision de l'index : ± 0,0005 (dans le pire des cas). La précision de l'indice absolu est principalement limitée par les incertitudes liées à la détermination de l'angle et de l'indice de réfraction du prisme de mesure. Pour des échantillons de qualité optique raisonnable, si une table haute résolution est utilisée et si l'utilisateur souhaite effectuer une procédure d'étalonnage simple avec chaque prisme, une précision d'index absolue de ± 0,0001 à 0,0002 peut être obtenue. NIST, silice fondue et d'autres étalons sont disponibles pour l'étalonnage des indices.
Résolution de l'index : ± 0,0003 (dans le pire des cas). Pour les échantillons de qualité optique raisonnable, la résolution de l'indice peut être améliorée jusqu'à ± 0,00005 en utilisant une table rotative haute résolution, une option gratuite.
Précision de l'épaisseur : ±(0,5 % + 5 nm)
Résolution d'épaisseur : ±0,3 %
Longueur d'onde de fonctionnement : des longueurs d'onde plus courtes en option (405, 450, 473, 532, 594 nm) pour la mesure de films plus minces et des longueurs d'onde proche IR (830, 980, 1 064, 1 310, 1 550 nm) pour les applications de fibre/optique intégrée sont disponibles. Les sources facultatives modifient la classe de sécurité CDRH en IIIa ou IIIb.
Temps de mesure typique : 10 à 25 secondes avec un tableau standard, 20 à 75 secondes avec un tableau haute résolution.
Zone de mesure : alors que le film et le prisme de mesure sont en contact sur une surface d'environ 8 mm carrés, la surface du film réellement mesurée n'a qu'un diamètre de 1 mm.
Plage de mesure de l'indice de réfraction : Avec des prismes standards, les films et les matériaux en vrac avec un indice de réfraction inférieur ou égal à 2,65 sont mesurables. Des prismes spécialisés sont disponibles pour permettre des mesures d'indice jusqu'à 3,35 (consulter Metricon pour plus de détails).
Types de films/gammes d'épaisseur mesurables : Le modèle 2010/M peut mesurer pratiquement n'importe quel type de film qui n'est pas métallique ou qui est très fortement absorbant à la longueur d'onde de fonctionnement. Dans de nombreux cas, l'épaisseur et l'indice d'un ou des deux films de couches doubles sont mesurables*, à condition que le film supérieur ait un indice de réfraction plus élevé. L'épaisseur doit dépasser un seuil minimum qui dépend de l'indice du film et du substrat (ou du film sous-jacent).

This equipment is located in US


Veuillez noter que cette description a pu être traduite automatiquement.

Dernière disponibilité: Mars 14, 2024

Informations de l'offre

Fabricant Metricon
Modèle 2010/M
Année 2018
Pays USA USA
Condition Bonne
Catégorie Equipements industriels divers
Sous-catégorie Autres tests et mesures
ID P403140017

Dernière disponibilité: Mars 14, 2024

A propos du vendeur

Type de client Marchand
Sur Kitmondo depuis 2019
Nombre d'offres 50
Pays USA USA
Dernière acitivité mars 14, 2024
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