Olympus Japan Olympus MX61L-F

Descripción del anuncio

El microscopio de inspección Olympus MX61L-F es un instrumento óptico de última generación diseñado meticulosamente para los exigentes requisitos de inspección de semiconductores y pantallas planas.
Equipado con un conjunto completo de funciones, este microscopio garantiza un examen preciso y confiable de muestras. Es un activo esencial para el control de calidad, la investigación y el desarrollo en estas industrias.

Especificaciones técnicas clave:

Tubo de observación trinocular: Cuenta con un tubo de observación trinocular con título para una visualización e imágenes cómodas.
Etapa XY: Equipada con una etapa XY manual accionada por embrague con controles coaxiales (Olympus MX-SIC1412RS) para un posicionamiento preciso de la muestra.
Iluminación: Configurado para inspección de campo claro y campo oscuro con controles frontales para intensidad de luz. Incluye un control deslizante de cubo de 3 posiciones para BF/DF/DIC opcional.
Imágenes digitales: Cuenta con una interfaz RS-232C para exportación de datos de PC y se complementa con una cámara CCD digital Lumenera Infinity 1 con PC y software para imágenes de alta calidad.
Objetivos: Viene con un conjunto completo de objetivos Olympus (5X, 10X, 20X, 50X y 100X) para diversas necesidades de aumento.
Analizador y filtros: Equipado con un analizador giratorio (Microscopio Olympus U-AN360-3) y múltiples filtros, incluidos controles deslizantes polarizadores y de densidad neutra.
Iluminación: Cuenta con un potente iluminador de 12 V y 100 W (Olympus U-LH100-3) y un iluminador Schott YAHATA Megalight 100 adicional con tubo Olympus LG-SF para una iluminación óptima de la muestra.
Reacondicionado: Totalmente probado y reacondicionado por un técnico autorizado de Olympus para garantizar el máximo rendimiento y confiabilidad.
Datos técnicos:
El microscopio de inspección Olympus MX61L-F integra óptica avanzada, mecánica de precisión y tecnología de imágenes digitales para ofrecer un rendimiento excepcional. Sus capacidades de campo claro y campo oscuro, junto con la capacidad de exportar datos a una PC, brindan a los usuarios capacidades de inspección y documentación precisas.

El microscopio de inspección de semiconductores y pantallas planas MX61L-F de Olympus es la opción ideal para los profesionales de las industrias de semiconductores y pantallas planas. Sus características integrales, capacidades de imágenes digitales y una renovación meticulosa garantizan un rendimiento y confiabilidad de primer nivel. Invierta en este microscopio para mejorar sus procesos de inspección y control de calidad

This equipment is located in KR