Olympus Japan Olympus MX61L-F

Beschrijving advertentie

De Olympus MX61L-F inspectiemicroscoop is een geavanceerd optisch instrument dat zorgvuldig is ontworpen voor de veeleisende eisen van de inspectie van halfgeleiders en platte beeldschermen.
Deze microscoop is uitgerust met een uitgebreide reeks functies en zorgt voor nauwkeurig en betrouwbaar onderzoek van monsters. Het is een essentiële troef voor kwaliteitscontrole, onderzoek en ontwikkeling in deze industrieën.

Belangrijkste technische specificaties:

Trinoculaire observatiebuis: Beschikt over een trinoculaire observatiebuis met kantelfunctie voor comfortabel kijken en beeldvorming.
XY-tafel: Uitgerust met een door een koppeling aangedreven handmatige XY-tafel met coaxiale bedieningselementen (Olympus MX-SIC1412RS) voor nauwkeurige monsterpositionering.
Verlichting: Geconfigureerd voor zowel helderveld- als donkerveldinspectie met aan de voorzijde gemonteerde bedieningselementen voor de lichtintensiteit. Het bevat een kubusschuifregelaar met 3 posities voor BF/DF/optionele DIC.
Digitale beeldverwerking: beschikt over een RS-232C-interface voor het exporteren van pc-gegevens en wordt aangevuld met een Lumenera Infinity 1 digitale CCD-camera met pc en software voor hoogwaardige beeldvorming.
Doelstellingen: Wordt geleverd met een volledige set Olympus-doelstellingen (5X, 10X, 20X, 50X en 100X) voor verschillende vergrotingsbehoeften.
Analyser en filters: Uitgerust met een roterende analysator (Olympus Microscope U-AN360-3) en meerdere filters, inclusief schuifregelaars voor neutrale dichtheid en polarisator.
Verlichting: Beschikt over een krachtige 12V 100W illuminator (Olympus U-LH100-3) en extra Schott YAHATA Megalight 100 Illuminator met Olympus LG-SF buis voor optimale monsterverlichting.
Gerenoveerd: Volledig getest en gereviseerd door een door Olympus geautoriseerde technicus om topprestaties en betrouwbaarheid te garanderen.
Technische data:
De Olympus MX61L-F Inspectiemicroscoop integreert geavanceerde optica, precisiemechanica en digitale beeldtechnologie om uitzonderlijke prestaties te leveren. De helderveld- en donkerveldmogelijkheden, gekoppeld aan de mogelijkheid om gegevens naar een pc te exporteren, bieden gebruikers nauwkeurige inspectie- en documentatiemogelijkheden.

De Olympus MX61L-F Inspectiemicroscoop voor halfgeleiders en platte beeldschermen is de ideale keuze voor professionals in de halfgeleider- en platte beeldschermindustrie. De uitgebreide functies, digitale beeldmogelijkheden en zorgvuldige renovatie zorgen voor topprestaties en betrouwbaarheid. Investeer in deze microscoop om uw inspectie- en kwaliteitscontroleprocessen te verbeteren

This equipment is located in KR