Olympus Japan Olympus MX61L-F

Description de l'offre

Le microscope d'inspection Olympus MX61L-F est un instrument optique de pointe méticuleusement conçu pour les exigences exigeantes de l'inspection des semi-conducteurs et des écrans plats.
Doté d'un ensemble complet de fonctionnalités, ce microscope garantit un examen précis et fiable des échantillons. C’est un atout essentiel pour le contrôle qualité, la recherche et le développement dans ces industries.

Spécifications techniques clés :

Tube d'observation trinoculaire : comprend un tube d'observation trinoculaire titrant pour une visualisation et une imagerie confortables.
Platine XY : équipée d'une platine XY manuelle entraînée par embrayage avec commandes coaxiales (Olympus MX-SIC1412RS) pour un positionnement précis de l'échantillon.
Éclairage : configuré pour l'inspection en fond clair et en fond noir avec des commandes montées à l'avant pour l'intensité lumineuse. Il comprend un curseur cube à 3 positions pour BF/DF/DIC en option.
Imagerie numérique : comporte une interface RS-232C pour l'exportation de données PC et est complétée par une caméra CCD numérique Lumenera Infinity 1 avec PC et logiciel pour une imagerie de haute qualité.
Objectifs : livré avec un ensemble complet d'objectifs Olympus (5X, 10X, 20X, 50X et 100X) pour divers besoins de grossissement.
Analyseur et filtres : équipé d'un analyseur rotatif (microscope Olympus U-AN360-3) et de plusieurs filtres, y compris des curseurs de densité neutre et de polarisation.
Éclairage : comprend un puissant illuminateur 12 V 100 W (Olympus U-LH100-3) et un illuminateur Schott YAHATA Megalight 100 supplémentaire avec tube Olympus LG-SF pour un éclairage optimal des échantillons.
Remis à neuf : entièrement testé et remis à neuf par un technicien agréé Olympus pour garantir des performances et une fiabilité optimales.
Données techniques:
Le microscope d'inspection Olympus MX61L-F intègre une optique avancée, une mécanique de précision et une technologie d'imagerie numérique pour offrir des performances exceptionnelles. Ses capacités en fond clair et en fond noir, associées à la possibilité d'exporter des données vers un PC, offrent aux utilisateurs des capacités d'inspection et de documentation précises.

Le microscope d'inspection des semi-conducteurs et des écrans plats Olympus MX61L-F est le choix idéal pour les professionnels des secteurs des semi-conducteurs et des écrans plats. Ses fonctionnalités complètes, ses capacités d’imagerie numérique et sa remise à neuf méticuleuse garantissent des performances et une fiabilité de premier ordre. Investissez dans ce microscope pour améliorer vos processus d'inspection et de contrôle qualité

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