Semilab CMS3

Description de l'offre

CARACTÉRISATION RAPIDE DES MATÉRIAUX ET CONTRÔLE DES PROCÉDÉS SANS CONTACT

La résistance de la feuille d'émetteur est un paramètre principal de contrôle de qualité pour les plaquettes de silicium dans les applications photovoltaïques après diffusion de l'émetteur.

Les modèles CLS, CLS-1A, CLS-3A et CLS-5A, testeurs de résistance de feuille d'émetteur permettent de mesurer la résistance de feuille en 1 à 5 points avec un débit élevé qui répond aux exigences du contrôle qualité en ligne dans la production de cellules entièrement automatisée. lignes.

Les modèles CMS, CMS-1A, CMS-3A et les testeurs de résistance de feuille d'émetteur permettent de mesurer les plaquettes, c'est-à-dire que la bande transporteuse ne s'arrête pas pendant la mesure. Par conséquent, ils ont un débit élevé qui répond aux exigences du contrôle qualité en ligne dans les lignes de production de cellules entièrement automatisées.

Caractéristiques et spécifications du système :

Mesures. technique : photovoltage de jonction sans contact (JPV)
Taille de l'échantillon : 100 à 156 mm (option 210 mm)
Exemple de structure : jonctions np ou pn
Plage de mesure : 10 Î/m². à 200 I/m².
Distance de la sonde : hauteur de la sonde de 1,5 mm au-dessus de la courroie de transport
Tolérance de position verticale de la plaquette : < 400 μm
Exemple de support : sur ceinture
Calibrage : par tranches vérifiées avec une sonde à quatre points
Possibilités :

Module de mesure (y compris têtes de mesure de résistance en feuille 1A-5A)
PC industriel (système d'exploitation Windows) et périphériques
Option de vérificateur d'émetteur CLS-1M
Capteur de présence de plaquette (CMS uniquement)
Grande variété d'interfaces disponibles pour l'automatisation et le MES :

E/S 24 V optiquement isolées, interface Ethernet
Profibus
OPC-DA
Protocole TCP/IP, le contenu peut être XML ou ASCII
Base de données SQL
SECS/GEM

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