Sistema de medição de resistência de chapa Semilab CMS3

Descrição do anúncio

RÁPIDA CARACTERIZAÇÃO DE MATERIAL SEM CONTATO E CONTROLE DE PROCESSO

A resistência da folha emissora é um parâmetro primário de controle de qualidade para wafers de silício em aplicações fotovoltaicas após a difusão do emissor.

Os modelos CLS, CLS-1A, CLS-3A e CLS-5A, testadores de resistência de folha emissora permitem a medição da resistência da folha em 1 a 5 pontos com alto rendimento que atende aos requisitos de controle de qualidade em linha na produção de células totalmente automatizadas linhas.

Os modelos CMS, CMS-1A, CMS-3A, Emitter Sheet Resistance Testers permitem a medição de wafers, ou seja, a correia transportadora não para durante a medição. Portanto, eles têm alto rendimento que atende aos requisitos de controle de qualidade em linha em linhas de produção de células totalmente automatizadas.

Recursos e especificações do sistema:

Medidas. técnica: sem contato, fototensão de junção (JPV)
Tamanho da amostra: 100 a 156 mm (opção de 210 mm)
Estrutura de amostra: junções np ou pn
Faixa de medição: 10 Î/sq. a 200 I/sq.
Distância da sonda: 1,5 mm de altura da sonda acima da correia de transporte
Tolerância de posição vertical do wafer: <400 Î1⁄4m
Suporte de amostra: no cinto
Calibração: por wafers verificados com sonda de quatro pontos
Opções:

Módulo de medição (incl. cabeçotes de medição de resistência de folha 1A-5A)
PC industrial (sistema operacional Windows) e periféricos
Opção de verificador de emissor CLS-1M
Sensor de presença de wafer (somente CMS)
Grande variedade de interfaces disponíveis para automação e MES:

E/S opticamente isolada de 24 V, interface Ethernet
Profibus
DA OPC
Protocolo TCP/IP, o conteúdo pode ser XML ou ASCII
Banco de dados SQL
SEC/GEM

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