Sistema di misurazione della resistenza della lamiera Semilab CMS3

Descrizione dell'annuncio

CARATTERIZZAZIONE RAPIDA DEI MATERIALI SENZA CONTATTO E CONTROLLO DEL PROCESSO

La resistenza del foglio dell'emettitore è un parametro primario di controllo della qualità per i wafer di silicio nelle applicazioni fotovoltaiche dopo la diffusione dell'emettitore.

I modelli CLS, CLS-1A, CLS-3A e CLS-5A, tester di resistenza del foglio con emettitore consentono la misurazione della resistenza del foglio da 1 a 5 punti con un'elevata produttività che soddisfa i requisiti del controllo di qualità in linea nella produzione di celle completamente automatizzata linee.

I modelli CMS, CMS-1A, CMS-3A, tester di resistenza del foglio emettitore consentono la misurazione dei wafer, ovvero il nastro trasportatore non si ferma durante la misurazione. Pertanto, hanno un rendimento elevato che soddisfa i requisiti del controllo di qualità in linea nelle linee di produzione di celle completamente automatizzate.

Caratteristiche e specifiche del sistema:

Mis. tecnica: senza contatto, fototensione di giunzione (JPV)
Dimensioni del campione: da 100 a 156 mm (opzione 210 mm)
Struttura del campione: giunzioni np o pn
Campo di misura: 10 Î/sq. a 200 I/mq.
Distanza della sonda: altezza della sonda 1,5 mm sopra il nastro di trasporto
Tolleranza sulla posizione verticale del wafer: < 400 μm
Supporto campione: su cintura
Calibrazione: tramite wafer verificati con sonda a quattro punti
Opzioni:

Modulo di misurazione (incl. testine di misurazione della resistenza del foglio 1A-5A)
PC industriale (sistema operativo Windows) e periferiche
Opzione controllo emettitore CLS-1M
Sensore presenza wafer (solo CMS)
Ampia varietà di interfacce disponibili per l'automazione e il MES:

I/O 24V optoisolati, interfaccia Ethernet
Profibus
OPCDA
Protocollo TCP/IP, il contenuto può essere XML o ASCII
Base di dati SQL
SECONDI/GEM

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