Rudolph Technologies NSX 105 Wafer Inspection System

Περιγραφή καταχώρησης

Τα συστήματα επιθεώρησης πλακιδίων Rudolph Technologies NSX® προσφέρουν υψηλή απόδοση μαζί με επαναλαμβανόμενη επιθεώρηση ελαττωμάτων μακροσκοπίου για ελαττώματα 0,5 micron και μεγαλύτερα.

Τα ελαττώματα της μακροσκοπικής γκοφρέτας μπορεί να εμφανιστούν σε διάφορες φάσεις της κατασκευής ημιαγωγών και μπορεί να έχουν σημαντικό αντίκτυπο στην ποιότητα των μικροηλεκτρονικών συσκευών σας. Αυτό το οικονομικά αποδοτικό σύστημα επιθεώρησης γκοφρέτας Rudolph Technologies NSX 105 εντοπίζει γρήγορα και με ακρίβεια κρίσιμα ελαττώματα και παρέχει διασφάλιση ποιότητας εκτός από πολύτιμες πληροφορίες διαδικασίας.

Το σύστημα επιθεώρησης πλακιδίων NSX 105 είναι αποδεδειγμένο πεδίου σε μια ευρεία γκάμα εφαρμογών, όπως ημιαγωγός, ημιαγωγός, MEMS, οπτοηλεκτρονική, μικροοθόνες και αποθήκευση δεδομένων.

Βασικά χαρακτηριστικά αυτού του πλήρως ανακαινισμένου συστήματος επιθεώρησης γκοφρέτας:
Ανάλυση διαδικασίας ανιχνευτή γκοφρέτας
Αυτοματοποιημένη επιθεώρηση ελαττωμάτων μακροεντολών
Γρήγορη, αξιόπιστη 2D επιθεώρηση προσκρούσεων
Προηγμένος έλεγχος διαδικασιών και αναφορά
Γρήγορο, ευέλικτο ανακαινισμένο σύστημα χειρισμού αυτοματοποιημένου ελέγχου γκοφρέτας UltraPort-5 που χειρίζεται ολόκληρες γκοφρέτες και γκοφρέτες 150mm έως 300mm σε πλαίσια φιλμ

This equipment is located in CH